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X射線熒光光譜測厚儀（EDXRF） X射線熒光光譜（XRF）鍍層厚度檢測儀是針對電鍍層厚度測量的專業(yè)設(shè)備，采用X射線激發(fā)樣品中鍍層元素產(chǎn)生特征熒光，通過探測器分析熒光強(qiáng)度推算鍍層厚度。儀器具備無損檢測、多元素分析、高精度高及快速檢測的優(yōu)勢，支持單點/掃描模式，適用于PCB、連接器、汽車緊固件等鍍層厚度控制，是電鍍行業(yè)質(zhì)量檢測的核心工具。

能量色散X射線熒光光譜儀原理：基于X射線的能量吸收和發(fā)射過程。當(dāng)X射線照射到樣品表面時，被測試樣品中的原子吸收部分X射線能量并躍遷到一個激發(fā)態(tài)，然后再釋放出特征X射線（二次X射線）。每個元素都特 的電子能級結(jié)構(gòu)，因此不同元素的熒光峰位和峰強(qiáng)度也不同。通過檢測熒光的能量變化和強(qiáng)度分布，能夠確定樣品中所含的各種元素及其含量。

能量色散型x熒光分析儀 我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、氣相質(zhì)譜儀（GC-MS）、液相色譜儀（LC）、液相質(zhì)譜儀（LC-MS）、能譜儀（EDS）、高頻紅外碳硫分析儀（CS）、等等

xrf熒光光譜分析儀 SDD X射線探測器具有驚人的計數(shù)率,高達(dá)200000,比普通的Si-Pin X射線探測器獲取數(shù)據(jù)的能力高10倍，進(jìn)一步提高了Mg;Al;Si;P;S等輕質(zhì)元素性能。

EDX光譜儀 X射線熒光EDX光譜機(jī)器設(shè)備被檢測的樣品的對象可以是液體、固體、粉末、灰漿、過濾物、實核體、碎片、微粒、袋裝等。 儀器可自動識別樣品種類，也可強(qiáng)制設(shè)定。分為聚合物、混合物、金屬樣品三類。

河南X熒光光譜儀廠家 產(chǎn)品特點： 測試元素廣，Mg元素到U元素 真空和非真空條件自定義選定 多樣品測試無人值守一鍵完成

X熒光光譜機(jī)器 采用了*重新設(shè)計的射線管、無壓電源線、無 RF 噪音、更好的X射線屏蔽。 結(jié)構(gòu)更精密，縮短了射線管、探測器與被測樣品之間的距離，某些應(yīng)用信號提了~40%. 新的濾波輪更輕、更薄，在位置上更加接近被測樣品，具有8 個濾波器，可適應(yīng)的配置，不同的元素采用不同的濾波器，產(chǎn)生好的分析效果。

X熒光分析儀 RoHS檢出限Pb≤5ppm，Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm，Cl≤50ppm， 準(zhǔn)直器：Ø1,Ø2,Ø4mm 軟件方法：FlexFP 工作區(qū)：開放工作區(qū)自定義