XRF檢測儀

我公司銷售產品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）、電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、氣相質譜儀（GC-MS）、液相色譜儀（LC）、液相質譜儀（LC-MS）、能譜儀（EDS）、高頻紅外碳硫分析儀（CS）、礦漿載流在線采樣儀（OSA）等。銷售的儀器設備應用于元素分析，化合物測試，電鍍鍍層厚度檢測等。

X射線熒光光譜分析儀：

X射線熒光光譜分析儀 應對有害元素檢測、油品分析、礦石分析、合金分析、電鍍鍍層、環(huán)境分析的產品，目前正服務于各大重要部門。

儀器性能：

檢測精度高。

高的穩(wěn)定性，高的重復性。

優(yōu)異的線性相關性。

銠元素陽級本身就提高了2倍檢測鎂元素的結果。

大型SDD硅漂移探測器的使用將從鎂到硫元素的檢測下限/精度提高了四倍。

結構更精密，縮短了射線管、探測器與被測樣品之間的距離，對于某些應用信號提高了~40%.

新的濾波輪更輕、更薄，在位置上更加接近被測樣品，具有8 個濾波器，可適應高的配置，不同的元素采用不同的濾波器，產生好的分析效果。

超過1/3的機體采用鋁合金外殼設計，儀器頂部有專用的槽式散熱裝置，整個體系使散熱非常有效，延長機器壽命, X射線分析儀工作更加更穩(wěn)定，從而故障率極低。

SDD X射線探測器具有驚人的計數率,高達200000,比普通的Si-Pin X射線探測器獲取數據的能力高10倍，進一步提高了Mg;Al;Si;P;S等輕質元素性能。

內置的氣壓計可以糾正氣壓，氣壓計壓力感應, 可根據不同的壓力調整，從而是檢測值更加準確，儀器預設海平面，客戶在不同的海拔高度測試，無需再次校準。

內置的加速器可探測運動和震動，使儀器不用時待機，拿起時工作。

真空系統(tǒng)（選配）：真空系統(tǒng)可提高Mg;Al;Si;P;S等輕質元素的檢測下限。

智能接駁座可對額外電池充電、儀器內置電池同時充電并顯示充電進度，接駁座能連接電腦交換數據，可讓儀器即時標準化，儀器隨時待命狀態(tài)。

儀器具有很好的平衡性，在測試時能立于工作臺上，不需要用手扶持，一鍵式按鈕設計，即使長時間操作也無疲勞感。

工業(yè)級可觸摸的顯示屏與主機一體化密封設計，可承受野外惡劣的工作環(huán)境。密封的儀器可在雨天、塵土飛揚的礦山環(huán)境中長時間正常工作。

儀器技術性能：

真正實現(xiàn)在現(xiàn)場進行無損,快速,準確的檢測,直接顯示元素的百分比含量。

只需將合金分析儀直接接觸待測合金表面，無須長時間等待即可現(xiàn)場確定合金等級。

被檢測的樣品的對象可以是合金塊、合金片、合金線、合金渣、合金粉。

不規(guī)則或小型樣品的補償性測試方法能檢測很小或很少的樣品,如直徑為0.04mm的細絲也能立即辨認。

式可延伸的探頭設計能對管道內部、焊縫,等位置進行檢測。

可檢測溫度高達450℃的高溫材料。

可現(xiàn)場在庫中添加,編輯,刪除合*號。

全球快的分析速度, 僅需2秒鐘就可識別合金元素。

用戶化windows CE 6.0系統(tǒng)驅動的微電腦顯示系統(tǒng)使所有功能皆可現(xiàn)場完成，用戶化windows CE僅保留有windows與Delta系統(tǒng)有關的性能，使程序更具靈活性。

無需借助電腦，可在現(xiàn)場隨意查看，放大相關元素的光譜圖。

電磁干擾被屏蔽，即使在靠近手機或雙向無線通信裝置處也能正常工作。

儀器元素分析范圍：

可分析從從12號元素Mg到94號元素PU之間的所有元素（儀器配置不同測試范圍不同）。

儀器用途及應用：

用于現(xiàn)場，無損，快速，準確分析檢測合金元素和合*號的識別。

合金材料鑒別（PMI）

來料檢驗；庫存材料管理；安裝材料復檢

分析儀攜帶方便，使用簡單，分析速度快，精度高，其結果直接顯示合*號、金屬成分的百分比含量，從而使分析儀成為合金材料鑒別的供應商。

金屬廢料回收

廢舊金屬的回收、再利用需要分析儀，確保對大量繁雜多樣的合金種類及材料品質，進行現(xiàn)場快速準確的分析檢測。為購銷雙方在原材料交易時作出迅速、可靠的判定，并提供必要的信息。

質量保證與質量控制（QA/QC）

XRF檢測儀