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元素含量檢測(cè)儀是材料成分分析、環(huán)境監(jiān)測(cè)、礦產(chǎn)勘探及質(zhì)量控制的關(guān)鍵設(shè)備,可精準(zhǔn)測(cè)定樣品中從ppm級(jí)到百分比級(jí)的金屬與部分非金屬元素含量。其高靈敏度與多元素同步分析能力,源于多個(gè)精密子系統(tǒng)的高度集成。深入了解元素含量檢測(cè)儀各組成部件的功能與特點(diǎn),是實(shí)現(xiàn)測(cè)得準(zhǔn)、分得清、用得穩(wěn)的技術(shù)基石。一、激發(fā)源系統(tǒng)XRF機(jī)型:采用X射線管(Rh、Ag或Cr靶),通過(guò)高能電子轟擊產(chǎn)生初級(jí)X射線,激發(fā)樣品原子內(nèi)層電子躍遷,釋放特征熒光X射線;ICP-OES/AAS機(jī)型:使用高頻感應(yīng)線圈(ICP)或空...
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ICP電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀(ICP-AES)在稀土元素成分含量檢測(cè)方面具有重要的應(yīng)用價(jià)值。以下是對(duì)其應(yīng)用的詳細(xì)介紹:一、ICP-AES的工作原理ICP-AES的工作原理主要基于電感耦合等離子體(ICP)作為激發(fā)光源。ICP是由高頻電流經(jīng)感應(yīng)線圈產(chǎn)生高頻電磁場(chǎng),使工作氣體(如氬氣)電離形成火焰狀放電高溫等離子體。稀土元素樣品溶液通過(guò)進(jìn)樣系統(tǒng)進(jìn)入ICP中,在高溫環(huán)境下被蒸發(fā)、原子化、激發(fā)和電離,從而發(fā)射出特定波長(zhǎng)的光譜。這些光譜經(jīng)過(guò)分光系統(tǒng)被色散成不同波長(zhǎng)的單色光,并由...
5-20
X射線熒光光譜儀(XRF)是一種利用X射線激發(fā)樣品中的元素并測(cè)量其熒光光譜的精密儀器。該技術(shù)基于莫斯萊定律和量子理論,通過(guò)測(cè)量熒光X射線的波長(zhǎng)或能量來(lái)確定元素的種類,并通過(guò)熒光X射線的強(qiáng)度來(lái)評(píng)估元素的含量。X射線熒光光譜儀的技術(shù)原理主要涉及到X射線的產(chǎn)生、激發(fā)和檢測(cè)三個(gè)過(guò)程。首先,X射線管產(chǎn)生入射X射線,激發(fā)被測(cè)樣品中的元素,產(chǎn)生X熒光(二次X射線)。然后,探測(cè)器對(duì)這些X熒光進(jìn)行檢測(cè),并測(cè)量其能量和數(shù)量。最后,儀器軟件將收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。在前沿應(yīng)用...
5-16
膜厚檢測(cè)儀能夠準(zhǔn)確測(cè)量材料表面薄膜的厚度,為半導(dǎo)體加工、金屬材料檢測(cè)以及涂層質(zhì)量監(jiān)控等提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持。通過(guò)測(cè)量光波在薄膜表面反射和透射后的相位差,該儀器能夠迅速、精確地計(jì)算出薄膜的厚度,并可根據(jù)需要分析薄膜的光學(xué)性質(zhì)。膜厚檢測(cè)儀由多個(gè)部件構(gòu)成,每個(gè)部件都發(fā)揮著重要的功能,以下是各組成部件及其功能特點(diǎn):1、光源系統(tǒng):光源系統(tǒng)是膜厚檢測(cè)儀中至關(guān)重要的組成部分,通常使用白光或激光作為光源。系統(tǒng)產(chǎn)生高強(qiáng)度的光束,照射到待測(cè)樣品表面,并與樣品反射的光進(jìn)行干涉。2、干涉系統(tǒng):干涉系統(tǒng)接...
5-1
金屬成分測(cè)試儀通過(guò)分析金屬樣品中的元素成分,可以確定其質(zhì)量、強(qiáng)度和其他關(guān)鍵特性,能夠快速、準(zhǔn)確地進(jìn)行元素分析,為生產(chǎn)過(guò)程提供重要數(shù)據(jù)支持,有助于提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量,廣泛應(yīng)用于制造業(yè)、材料科學(xué)、質(zhì)量控制等領(lǐng)域,幫助用戶確保產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)要求。為了確保金屬成分測(cè)試儀準(zhǔn)確性和可靠性,定期維護(hù)保養(yǎng)是不可少的。下面將介紹詳細(xì)的定期維護(hù)保養(yǎng)方法:1、定期清潔是保持儀器正常運(yùn)行的關(guān)鍵。使用干凈、柔軟的布或棉紗蘸取少量酒精擦拭外殼表面,確保沒(méi)有灰塵或污垢影響測(cè)試結(jié)果。同時(shí),注意不要讓水或其...
4-23
X射線熒光膜厚儀是一種基于X射線熒光原理的高精度測(cè)量?jī)x器,廣泛應(yīng)用于薄膜厚度測(cè)量領(lǐng)域。其技術(shù)原理在于利用X射線源發(fā)射的X射線穿透待測(cè)樣品,激發(fā)樣品中的元素產(chǎn)生特征X射線熒光。通過(guò)檢測(cè)這些特征X射線的強(qiáng)度和能量,進(jìn)而確定樣品中元素的種類和含量,從而推算出薄膜的厚度。X射線熒光膜厚儀的精準(zhǔn)測(cè)量應(yīng)用主要體現(xiàn)在多個(gè)方面。首先,在微電子行業(yè)中,薄膜的厚度對(duì)于器件的性能和穩(wěn)定性具有重要影響。X射線熒光膜厚儀能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)薄膜厚度的非破壞性、快速且精確的測(cè)量,為微電子器件的生產(chǎn)和質(zhì)量控制提供了...
4-19
銅合金分析儀是一種專門用于檢測(cè)和分析銅合金成分的儀器,通過(guò)使用新技術(shù)和方法,能夠快速、準(zhǔn)確地確定銅合金中各種元素的含量,包括銅、鋅、鎳等。該儀器在金屬加工、質(zhì)量控制和研究領(lǐng)域中發(fā)揮著重要作用,幫助生產(chǎn)商確保產(chǎn)品質(zhì)量,優(yōu)化生產(chǎn)工藝,并滿足客戶需求。銅合金分析儀各組成部件在確保準(zhǔn)確性和效率方面發(fā)揮著關(guān)鍵作用,以下是對(duì)各組成部件功能特點(diǎn)的詳細(xì)介紹:1、激發(fā)源:功能:激發(fā)源通常是X射線發(fā)生器,用于產(chǎn)生高能量的X射線束。特點(diǎn):具有穩(wěn)定的輸出能量和頻率,能夠準(zhǔn)確激發(fā)樣品并產(chǎn)生準(zhǔn)確的分析結(jié)...
4-1
元素含量檢測(cè)儀是一種用于分析樣品中元素含量的儀器,通過(guò)不同的技術(shù),如原子吸收光譜、質(zhì)譜等,可以快速、準(zhǔn)確地測(cè)量樣品中各種元素的含量。該儀器在化學(xué)、環(huán)境、食品、藥品等領(lǐng)域廣泛應(yīng)用,幫助科研人員、工程師和質(zhì)量控制人員進(jìn)行元素分析和質(zhì)量檢測(cè)。元素含量檢測(cè)儀在長(zhǎng)時(shí)間使用過(guò)程中,會(huì)遇到各種故障。了解這些故障并學(xué)會(huì)相應(yīng)的解決方法對(duì)于確保儀器的正常運(yùn)行至關(guān)重要。1、顯示屏出現(xiàn)問(wèn)題。如果顯示屏出現(xiàn)模糊、閃爍或者不顯示的情況,首先應(yīng)該檢查電源線是否連接良好,確保電源供應(yīng)正常。如果電源沒(méi)有問(wèn)題,...
3-22
X射線熒光膜厚儀作為一種高精度測(cè)量設(shè)備,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域。為了確保其正常運(yùn)行和測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性,正確的操作技巧和維護(hù)保養(yǎng)至關(guān)重要。在操作技巧方面,首先,使用前應(yīng)仔細(xì)閱讀儀器說(shuō)明書(shū),了解儀器的基本結(jié)構(gòu)、功能及操作要求。在測(cè)量過(guò)程中,應(yīng)確保樣品表面平整、無(wú)雜質(zhì),并選擇合適的測(cè)量模式和參數(shù)。同時(shí),避免在強(qiáng)磁場(chǎng)或強(qiáng)電場(chǎng)環(huán)境下使用儀器,以免干擾測(cè)量結(jié)果。此外,測(cè)量結(jié)束后,應(yīng)及時(shí)關(guān)閉儀器并清理樣品臺(tái),保持儀器的整潔。在維護(hù)保養(yǎng)方面,定期對(duì)儀器進(jìn)行清潔和校準(zhǔn)是關(guān)鍵。使用柔...
3-11
硅砂,也被稱為二氧化硅或石英砂,是一種堅(jiān)硬、耐磨、化學(xué)性能穩(wěn)定的硅酸鹽礦物。它的主要礦物成分是SiO2,顏色為乳白色或無(wú)色半透明狀,硬度為7,性脆無(wú)解理,具有貝殼狀斷口和油脂光澤,相對(duì)密度為2.65。硅砂的粒徑范圍通常在0.020mm-3.350mm之間,是一種耐火顆粒物。根據(jù)開(kāi)采和加工方法的不同,硅砂可以分為人工硅砂及水洗砂、擦洗砂、精選(浮選)砂等天然硅砂。硅砂的純度可以根據(jù)其二氧化硅的含量來(lái)劃分,普通硅砂中二氧化硅的含量在90%至99%之間,精制硅砂中二氧化硅的含量在9...
2-1
X射線熒光膜厚儀是一種利用X射線熒光原理測(cè)量材料表面鍍層厚度的儀器。其工作原理可以分為以下幾個(gè)步驟。首先,當(dāng)X射線源發(fā)出的X射線照射到材料表面時(shí),X射線與材料中的原子發(fā)生相互作用,使原子內(nèi)層電子受到激發(fā),從低能級(jí)躍遷到高能級(jí)。此時(shí),原子處于不穩(wěn)定狀態(tài),為了回到穩(wěn)定狀態(tài),原子會(huì)釋放出特征X射線,即熒光X射線。熒光X射線的能量或波長(zhǎng)與薄膜中的元素相對(duì)應(yīng),因此通過(guò)測(cè)量熒光X射線的能量或波長(zhǎng),可以確定薄膜中元素的種類和含量。其次,熒光X射線被探測(cè)器接收后,會(huì)被轉(zhuǎn)換為電信號(hào)。探測(cè)器通常...
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